| Поле | Инд. | ПП | Название | Значение |
|---|---|---|---|---|
| Тип записи | a | |||
| Библиографический уровень | m | |||
| 001 | Контрольный номер | e18f2772adb848ec997c7852d4f49ab3 | ||
| 005 | Дата корректировки | 20240905113959.1 | ||
| 020 | a | ISBN | 978-5-91522-225-9 | |
| 040 | a | Служба первич. каталог. | 10013504 | |
| b | Код языка каталог. | rus | ||
| e | Правила каталог. | PSBO | ||
| 041 | 0_ | a | Код языка текста | rus |
| 080 | a | Индекс УДК | 539.216.2-022.532 | |
| 080 | a | Индекс УДК | 520.84 | |
| 090 | r | Идентификатор организации | 10013504 | |
| a | Полочн. индекс | 539.2 | ||
| x | Авторский знак | А 593 | ||
| 100 | 1_ | a | Автор | Альфорд Т.Л. |
| 245 | 10 | a | Заглавие | Фундаментальные основы анализа нанопленок |
| c | Ответственность | МГУ им. М.В. Ломоносова, Научно-образоват. центр по нанотехнологиям; перевод с английского А.Н. Образцов, М.А. Долганов; науч. ред. рус. изд. А.Н. Образцов | ||
| 260 | a | Место издания | Москва | |
| b | Издательство | Научный мир | ||
| c | Дата издания | 2012 | ||
| 300 | a | Объем | 390 с. | |
| b | Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил. | ||
| 440 | _0 | a | Серия | Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники |
| 500 | a | Примечание | Пер.: Alford,Terry L. Fundamentals of nanoscale film analysis | |
| 504 | a | Библиография | Библиогр. в конце глав | |
| 520 | 0_ | a | Аннотация | Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к составу и структуре твердых тел на нанометровом масштабе. Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе. |
| 650 | 04 | a | Основная рубрика | Спектроскопия |
| x | Основная подрубрика | нанотехнологии | ||
| 653 | 0_ | a | Ключевые слова | КРИСТАЛЛОГРАФИЯ; НАНОПЛЕНКИ ; ТОНКИЕ ПЛЕНКИ; СПЕКТРОМЕТРИЯ; СПЕКТРОСКОПИЯ |
| 700 | 12 | a | Другие авторы | Фельдман Л.К. |
| 700 | 12 | a | Другие авторы | Майер Дж.В. |
| 700 | 12 | a | Другие авторы | Образцов А.Н. |
| e | Роль лиц | Редактор | ||
| 700 | 12 | a | Другие авторы | Долганов А.Н. |
| e | Роль лиц | Переводчик | ||
| 900 | a | Имя макрообъекта | обложка.Фундаментальные основы анализа нанопленок .Т.Л. Альфорд,2012 | |
| 900 | a | Имя макрообъекта | oglavlenie | |
| 901 | t | Тип документа | m | |
| 952 | a | Тип литературы для КСУ ВШ | КУчР | |
| c | Вид литературы | учебник |