| Поле | Инд. | ПП | Название | Значение |
|---|---|---|---|---|
| Тип записи | a | |||
| Библиографический уровень | m | |||
| 001 | Контрольный номер | RU/MAI/LIB/278449549 | ||
| 005 | Дата корректировки | 20241108190829.7 | ||
| 020 | 00 | a | ISBN | 5-02-024963-7 |
| 040 | a | Служба первич. каталог. | 10013504 | |
| 080 | 00 | a | Индекс УДК | 548.73 |
| 090 | 00 | a | Полочн. индекс | 548 |
| x | Авторский знак | Б 862 | ||
| e | Инвентарный номер (DOS) | 1537976 | ||
| 092 | 00 | a | r02 | |
| 100 | 10 | a | Автор | Боуэн Д.К. |
| 245 | 00 | a | Заглавие | Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография |
| c | Ответственность | отв.ред. И.Л. Шульпина | ||
| 260 | 00 | a | Место издания | СПб |
| b | Издательство | Наука | ||
| c | Дата издания | 2002 | ||
| 300 | 00 | a | Объем | 274 с |
| b | Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил. | ||
| 504 | 00 | a | Библиография | Библиогр.в конце глав |
| 520 | 0_ | a | Аннотация | В книге освещены основы теории и практики современных неразрушающих ренгеновских методов исследования и контроля реальной структуры материалов электронной техники.Объединены высокоразрешающая дифрактометрия и топография, которые особенно эффективно используются совместно, охвачены все аспекты их применения. Для научных работников, инженеров,преподавателей и студентов. |
| 650 | 00 | a | Основная рубрика | Кристаллы |
| x | Основная подрубрика | рентгенодифрактометрия | ||
| 650 | 00 | a | Основная рубрика | Рентгенография |
| 653 | 0_ | a | Ключевые слова | РЕНТГЕНОГРАФИЯ; ДИФРАКТОМЕТРИЯ |
| 700 | 10 | a | Другие авторы | Таннер Б.К. |
| 700 | 12 | a | Другие авторы | Шульпина И.Л. |
| e | Роль лиц | Редактор | ||
| 901 | t | Тип документа | m | |
| 952 | a | Тип литературы для КСУ ВШ | КНР | |
| c | Вид литературы | монография |