| Найдено документов - 5 | Найти похожие: "Индекс УДК" = '548.734(075.8) или 539.26(075.8) или 539.27(075.8) или 621.385.833.2(075.8)' | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Книга
Миронов В.Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений / В.Л. Миронов; РАН, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгоров. - Москва : Техносфера, 2024. - 143 с. : ил. - Библиогр.: с.140-143 (53 назв.). - ISBN 5-94836-034-2.
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений / В.Л. Миронов; РАН, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгоров. - Москва : Техносфера, 2024. - 143 с. : ил. - Библиогр.: с.140-143 (53 назв.). - ISBN 5-94836-034-2.
Авторы: Миронов В.Л.
Шифры: 621.385(075) - М 641
Ключевые слова: ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, МИКРОСКОПЫ, МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ, ЗОНДОВЫЕ МИКРОСКОПЫ
Аннотация: Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур – от туннельных до автономно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей.
Экземпляры: Всего: 1, из них: чзуч-1
Прямая ссылка:
Подробнее
Специальность: Физические
2. Книга
Кыдралиева К.А.
Методы анализа наноматериалов : учебное пособие / К.А. Кыдралиева, А.А. Юрищева, И.С. Белашова; МАИ (Нац. исслед. ун-т). - Москва : МАИ, 2016. - 70 с. : ил. - (Учебное пособие). - Библиогр.: с.67-70 (40 назв.). - ISBN 978-5-4316-0356-3.
Методы анализа наноматериалов : учебное пособие / К.А. Кыдралиева, А.А. Юрищева, И.С. Белашова; МАИ (Нац. исслед. ун-т). - Москва : МАИ, 2016. - 70 с. : ил. - (Учебное пособие). - Библиогр.: с.67-70 (40 назв.). - ISBN 978-5-4316-0356-3.
Авторы: Кыдралиева К.А., Юрищева А.А., Белашова И.С.
Шифры: 620.3(075) - К 978
Ключевые слова: АВТОР МАИ, НАНОМАТЕРИАЛЫ-УЧЕБНИКИ И ПОСОБИЯ, СПЕКТРОСКОПИЯ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Аннотация: Учебное пособие посвящено обзору методов исследования наноматериалов. Для студентов, аспирантов, обучающихся по специальностям «Материаловедение» и «Нанотехнологии», преподавателей технологических университетов, а также для широкого круга специалистов, работающих над проблемами разработки и применения нанотехнологий.
Экземпляры: Всего: 64, из них: абнл-5, абст-48, к/х7-2, чзнл-3, чзуч-5, ЭБС-1
Ссылка на ресурс: http://elibrary.mai.ru/MegaPro/Download/ToView/1560?idb=NewMAI2014
Для просмотра необходимо войти в личный кабинет
Прямая ссылка:
Подробнее
Специальность: Материаловедение
Кафедра: 901
3. Книга
Приборы и методы рентгеновской и электронной дифракции : учебное пособие / П.С. Чижов, Э.Е. Левин, А.С. Митяев, А.А. Тимофеев; Моск. физико-техн. ин-т. - Москва : МФТИ, 2011. - 149 с. : ил. - ISBN 978-5-5-8493-0222-5.
Авторы: Чижов П.С., Левин Э.Е., Митяев А.С., Тимофеев А.А.
Шифры: 548(075) - П 75
Ключевые слова: РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ, ЭЛЕКТРОННАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ, ДИФРАКЦИЯ РЕНТГЕНОВСКАЯ-УЧЕБНИКИ И ПОСОБИЯ, РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ, ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, МИКРОСКОПЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ
Экземпляры: Всего: 1, из них: чзнл-1
Прямая ссылка:
4. Книга
Миронов В.Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для студентов старших курсов вузов / В.Л. Миронов; РАН, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2005. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники. II-02). - Библиогр.:с.140-143(53 назв.). - ISBN 5-94836-034-2.
Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие для студентов старших курсов вузов / В.Л. Миронов; РАН, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2005. - 143 с. : ил. - (Мир физики и техники. II-02). - Библиогр.:с.140-143(53 назв.). - ISBN 5-94836-034-2.
Авторы: Миронов В.Л.
Шифры: 621.385(075) - М 641
Ключевые слова: МИКРОСКОПИЯ ЗОНДОВАЯ, МИКРОСКОПЫ ЗОНДОВЫЕ
Аннотация: Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур – сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно-силовая микроскопия (МСМ), ближнепольная оптическая микроскопия (БОМ). Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей.
Экземпляры: Всего: 29, из них: абнл-1, МАТИ-АТ-20, чзнл-2, чзТаганка-5, ЭБС-1
Ссылка на ресурс: http://elibrary.mai.ru/MegaPro/Download/ToView/61609?idb=NewMAI2014
Для просмотра необходимо войти в личный кабинет
Прямая ссылка:
5. Книга
Зубенко В.В.
Экспериментальные методы рентгеноструктурного анализа : Учеб.пособие / В.В. Зубенко; МГУ им.М.В.Ломоносова.Физ.фак. - М. : МГУ, 1992. - 150 с. : ил. - (Физика). - ISBN 5-211-02355-2.
Экспериментальные методы рентгеноструктурного анализа : Учеб.пособие / В.В. Зубенко; МГУ им.М.В.Ломоносова.Физ.фак. - М. : МГУ, 1992. - 150 с. : ил. - (Физика). - ISBN 5-211-02355-2.
Авторы: Зубенко В.В.
Шифры: 539.2(075) - З-911
Ключевые слова: АНАЛИЗ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ, РЕНТГЕНОГРАФИЯ, ДЕТЕКТОРЫ
Экземпляры: Всего: 3, из них: чзнл-3
Прямая ссылка: