Альфорд Т.Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок / Т.Л. Альфорд, Л.К. Фельдман, Дж.В. Майер ; МГУ им. М.В. Ломоносова, Научно-образоват. центр по нанотехнологиям; перевод с английского А.Н. Образцов, М.А. Долганов; науч. ред. рус. изд. А.Н. Образцов. - Москва : Научный мир, 2012. - 390 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники). - Пер.: Alford,Terry L. Fundamentals of nanoscale film analysis. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-91522-225-9.

Шифры: 539.2 - А 593

Аннотация: Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к составу и структуре твердых тел на нанометровом масштабе. Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.

Экземпляры: Всего: 1, из них: чзнл-1

Белянин А.Ф.
Наноматериалы. 1V. Тонкие пленки как наноструктурированные системы / А.Ф. Белянин, М.И. Самойлович ; ЦНИТИ "Техномаш". - М. : ОАО ЦНИТИ "Техномаш", 2008. - 252 с. : ил. - Библиогр.:с.231-247(206 назв.).

Шифры: 620.3 - Б 449

Экземпляры: Всего: 1, из них: чзнл-1