| Найдено документов - 5 | Найти похожие: "Индекс УДК" = '616-073.756.8 или 537.533.35' | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Книга
Сканирующая зондовая нанотомография / О.И. Агапова, А.Е. Ефимов, Д.Ю. Соколов, И.И. Агапов. - Москва : ТЕХНОСФЕРА, 2016. - 183 с. : ил., табл., цв. ил. - (Мир физики и техники. II.35). - Библиогр.: с.128-135 (107 назв.) и в прил. - ISBN 978-5-94836-456-8.
Авторы: Агапова О.И., Ефимов А.Е., Соколов Д.Ю., Агапов И.И.
Шифры: 61 - С 423
Ключевые слова: ТОМОГРАФИЯ, МИКРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННАЯ, СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ НАНОТОМОГРАФИЯ
Аннотация: Монография посвящена разработанному в ФГБУ "ФНЦ трансплантологии и искусственных органов им. ак. В.И.Шумакова" Минздрава России современному методу исследования трехмерных микро- наноструктур -сканирующей зондовой нанотомографии (СЗНТ), основанной на комбинации сканирующей зондовой микроскопии и ультрамикротомии. В книге проанализированы преимущества и недостатки СЗНТ в сравнении с другими методами анализа ультраструктуры, представлены результаты исследований трехмерной структуры различных биоматериалов и биологических объектов. Рассмотрены ключевые технические решения разработанных аппаратных комплексов для СЗНТ и криоСЗНТ и особенности их патентования. Книга предназначена для специалистов в области нанотехнологий, микроскопии высокого разрешения, структурной биологии, химии полимеров, науки о материалах и других специальностей.
Экземпляры: Всего: 3, из них: абнл-1, чзнл-2
2. Книга
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / Б.Л. Адамс, Н.Р. Бартон, Д.В. Бернье, А. Баттачарья ; под ред. А.Шварца, М.Кумара, Б.Адамса, Д.Филда ,пер. с англ. С.А.Иванова. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2014. - 559 с. : ил. - (Мир физики и техники. II,32). - Авт. указаны на 16-й с. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-385-1.
Авторы: Адамс Б.Л., Бартон Н.Р., Бернье Д.В., Баттачарья А.
Шифры: 620.1 - М 545
Ключевые слова: ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ, ПЛАСТИЧЕСКИЕ ДЕФОРМАЦИИ, ДИФРАКЦИЯ
Экземпляры: Всего: 1, из них: чзнл-1
3. Книга
Эгертон Р.Ф.
Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию / Р.Ф. Эгертон ; перевод с англ.ийского С.А. Иванова. - Москва : Техносфера, 2010. - 300 с., 1 л. ил. : ил. - (Мир физики и техники. II. 18). - Библиогр.: с.221-222 и в приложении. - Указ. - ISBN 978-5-94836-254-0.
Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию / Р.Ф. Эгертон ; перевод с англ.ийского С.А. Иванова. - Москва : Техносфера, 2010. - 300 с., 1 л. ил. : ил. - (Мир физики и техники. II. 18). - Библиогр.: с.221-222 и в приложении. - Указ. - ISBN 978-5-94836-254-0.
Авторы: Эгертон Р.Ф.
Шифры: 537.3 - Э 172
Ключевые слова: ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ, МИКРОСКОПИЯ
Аннотация: Растровые и просвечивающие электронные микроскопы стали незаменимыми приборами для исследований в материаловедении, полупроводниковой промышленности, нанотехнологиях, а также в биологии и медицине. В данной монографии излагается введение в теорию и современную практику электронной микроскопии. Книга предназначена для студентов старших курсов, которые хотели бы углубить свои знания об основных физических принципах микроскопии, для молодых специалистов, которые пользуются электронными микроскопами, а также для преподавателей вузов и исследователей.
Экземпляры: Всего: 5, из них: абнл-3, чзнл-2
4. Книга
Эмиссионная томография: основы ПЭТ и ОФЭКТ / под ред. Д. Арсвольда, М. Верника ; пер. с англ. А.А. Хуторненко ; под ред. А.А. Лушниковой. - Москва : Техносфера, 2009. - 599 с., [6] л. ил. : ил. - (Мир биологии и медицины ; III.14). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 978-5-94836-226-7. - ISBN 978-0-12744-482-6 (англ.).
Шифры: 61 - Э 554
Ключевые слова: МЕДИЦИНСКАЯ РАДИОЛОГИЯ, МЕДИЦИНСКАЯ РЕНТГЕНОЛОГИЯ, ЛУЧЕВАЯ ДИАГНОСТИКА, РЕНТГЕНОДИАГНОСТИКА, ТОМОГРАФИЯ, ТОМОГРАФИЯ ЭМИССИОННАЯ
Аннотация: В книге "Эмиссионная томография. Основы ПЭТ и ОФЭКТ" объясняются физические и инженерные принципы этих важных методов создания функциональных изображений. В ней подробно описана технология эмиссионной томографии, а также научные и математические основы, системы получения изображений и их компоненты, реконструкция и анализ изображений, методы моделирования, клинические и лабораторные приложения. Данная книга является основным источником для понимания технологий ПЭТ (позиционно-эмиссионная томография) и ОФЭКТ (однофотонная эмиссионная компьютерная томография), которые широко используются для форм создания молекулярных изображений. Книга предназначена для выпускников медицинских вузов, исследователей, физиков-медиков и инженеров-биомедиков.
Экземпляры: Всего: 1, из них: чзнл-1
5. Многотомник
Хокс П.
Основы электронной оптики : в 2-х т. / П. Хокс, Э. Каспер ; перевод с английского Л.А.Барановой и А.Л.Орбели; под ред. С.Я.Явор. - Москва : Мир, 1993. - ISBN 5-03-002070-5.
Т. 1 : Основы геометрической оптики. - 1993. - 551 с. : ил. - Библиогр.: с.518-546. - ISBN 5-03-002071-3.
Т. 2 : Прикладная геометрическая оптика. - 1993. - 477 с. : ил. - Библиогр.: с.423-473. - ISBN 5-03-002072-1.
Основы электронной оптики : в 2-х т. / П. Хокс, Э. Каспер ; перевод с английского Л.А.Барановой и А.Л.Орбели; под ред. С.Я.Явор. - Москва : Мир, 1993. - ISBN 5-03-002070-5.
Т. 1 : Основы геометрической оптики. - 1993. - 551 с. : ил. - Библиогр.: с.518-546. - ISBN 5-03-002071-3.
Т. 2 : Прикладная геометрическая оптика. - 1993. - 477 с. : ил. - Библиогр.: с.423-473. - ISBN 5-03-002072-1.
Авторы: Хокс П., Каспер Э.
Шифры: 537 - Х 709
Ключевые слова: ЭЛЕКТРОННАЯ ОПТИКА, ГЕОМЕТРИЧЕСКАЯ ОПТИКА