Сканирующая зондовая нанотомография / О.И. Агапова, А.Е. Ефимов, Д.Ю. Соколов, И.И. Агапов. - Москва : ТЕХНОСФЕРА, 2016. - 183 с. : ил., табл., цв. ил. - (Мир физики и техники. II.35). - Библиогр.: с.128-135 (107 назв.) и в прил. - ISBN 978-5-94836-456-8.

Шифры: 61 - С 423

Аннотация: Монография посвящена разработанному в ФГБУ "ФНЦ трансплантологии и искусственных органов им. ак. В.И.Шумакова" Минздрава России современному методу исследования трехмерных микро- наноструктур -сканирующей зондовой нанотомографии (СЗНТ), основанной на комбинации сканирующей зондовой микроскопии и ультрамикротомии. В книге проанализированы преимущества и недостатки СЗНТ в сравнении с другими методами анализа ультраструктуры, представлены результаты исследований трехмерной структуры различных биоматериалов и биоло­гических объектов. Рассмотрены ключевые технические решения разработанных аппаратных комплексов для СЗНТ и криоСЗНТ и особенности их патентования. Книга предназначена для специалистов в области нанотехнологий, микроскопии высокого разрешения, структурной биологии, химии полимеров, науки о материалах и других специальностей.

Экземпляры: Всего: 3, из них: абнл-1, чзнл-2

Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / Б.Л. Адамс, Н.Р. Бартон, Д.В. Бернье, А. Баттачарья ; под ред. А.Шварца, М.Кумара, Б.Адамса, Д.Филда ,пер. с англ. С.А.Иванова. - М. : ТЕХНОСФЕРА, 2014. - 559 с. : ил. - (Мир физики и техники. II,32). - Авт. указаны на 16-й с. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-385-1.

Шифры: 620.1 - М 545

Экземпляры: Всего: 1, из них: чзнл-1

Эгертон Р.Ф.
Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию / Р.Ф. Эгертон ; перевод с англ.ийского С.А. Иванова. - Москва : Техносфера, 2010. - 300 с., 1 л. ил. : ил. - (Мир физики и техники. II. 18). - Библиогр.: с.221-222 и в приложении. - Указ. - ISBN 978-5-94836-254-0.

Шифры: 537.3 - Э 172

Аннотация: Растровые и просвечивающие электронные микроскопы стали незаменимыми приборами для исследований в материаловедении, полупроводниковой промышленности, нанотехнологиях, а также в биологии и медицине. В данной монографии излагается введение в теорию и современную практику электронной микроскопии. Книга предназначена для студентов старших курсов, которые хотели бы углубить свои знания об основных физических принципах микроскопии, для молодых специалистов, которые пользуются электронными микроскопами, а также для преподавателей вузов и исследователей.

Экземпляры: Всего: 5, из них: абнл-3, чзнл-2

Хокс П.
Основы электронной оптики : в 2-х т. / П. Хокс, Э. Каспер ; перевод с английского Л.А.Барановой и А.Л.Орбели; под ред. С.Я.Явор. - Москва : Мир, 1993. - ISBN 5-03-002070-5.
Т. 1 : Основы геометрической оптики. - 1993. - 551 с. : ил. - Библиогр.: с.518-546. - ISBN 5-03-002071-3.
Т. 2 : Прикладная геометрическая оптика. - 1993. - 477 с. : ил. - Библиогр.: с.423-473. - ISBN 5-03-002072-1.

Шифры: 537 - Х 709